激光光学

能力

计量技术专家团队技术资源立刻体验

计量技术

如果无法测量，就无法制造

Edmund Optics^® 采用各种最先进的计量技术来确保满足所有规格要求。我们工艺中的计量能力包括光腔衰荡光谱法、白光干涉测量法、非接触式 3D 轮廓测量法等。通过内部激光测试实验室可以改进内部流程并验证激光损伤阈值。

技术

关键技术

短相干长度干涉测量法

特殊的 LED 光源用于测量平行、平坦的表面，同时最大限度地减少背面的反射

无需对后表面进行特殊处理，从而最大限度地缩短了测量时间，降低了损坏工件的风险和测量不准确的风险

非常适合测量双面镀膜的光学元件，例如背面带有应力补偿镀膜的离子束溅射（IBS）镀膜反射镜

关键技术

光热共路干涉测量法

精确测量吸收率可更好地鉴定光学镀膜和基底的光谱特性

泵浦-探测几何结构可测量吸收导致的热膨胀引起的折射率变化

与通过直接测量透射率来间接测定吸收率的分光光度计相比，对极低水平的吸收率测量更为灵敏和准确

关键技术

激光光学装配计量

测量装配性能的内部测试

透射波前误差

激光光束轮廓

测量桶内功率和目标上的能量

开发针对特定应用的测试

关键技术

紫外线疲劳和激光诱导污染测试

内部激光实验室进行长期应用紫外线激光照射实验

激光引起的污染是紫外激光系统的一个主要问题

环境或放气造成的污染会大大降低性能或导致系统故障

熟悉清洁和装配技术以减轻这些影响

分光光度法

用于表征反射和透射光谱性能
120nm - 20μm 的大光谱测量范围
测量范围大于 OD 7 截止可准确显示传输带和抑制带

干涉测量法

透射和反射波前测量，最小可达 < λ/20
拼接、大孔径和小孔径以及计算机生成的全息图设置
用于鉴定平面、球面和非球面组件以及光学组件的表面不平整度

激光损伤阈值 (LDT) 测试

对内部和外包组件进行测试以保证 LDT
内部高功率纳秒 Nd:YAG 激光器，波长 1064 纳米，谐波波长 532 纳米和 355 纳米
可提供其他波长和脉冲持续时间
测试数据可应要求提供

光腔衰荡光谱法

高精度损耗测量具有达百万分之一的灵敏度
针对常见的 Nd:YAG 谐波进行了调谐，其他波长可根据要求提供
精确量化高反射率和低反射率激光光学器件

原子力显微镜 (AFM)

高精度表征表面粗糙度、特征尺寸和位置
横向分辨率低至 3 纳米
垂直分辨率低至 0.1 纳米

微分干涉（DIC）显微镜

透射材料中的高灵敏度缺陷检测
用于分析光学涂层和基底中的激光损伤
在 100 倍放大镜下分析表面

超快色散表征

精确测量多层超快光学器件的群延迟色散 (GDD)
超宽带光谱覆盖范围从 250 纳米到 2100 纳米
AOI 在 0-70° 之间时 GDD 精度为 ±5 fs²

非接触式 3D 轮廓测量

验证精密非球面透镜的表面轮廓
OptiPro UltraSurf 4X 100 非接触式
在测量表面时不会刮伤或损坏部件

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技术

关键技术

短相干长度干涉测量法

关键技术

光热共路干涉测量法

关键技术

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紫外线疲劳和激光诱导污染测试

分光光度法

干涉测量法

激光损伤阈值 (LDT) 测试

光腔衰荡光谱法

原子力显微镜 (AFM)

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通过三种不同维度为客户提供服务：

汇集光学和光子学领域顶尖品牌和产品的一站式选购平台

优质光学和成像元件及系统的定制和批量制造商

生产制造配套的光学咨询、设计以及原型开发服务

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