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我们的销售和应用工程师Stefaan Vandendriessche，将为您演示如何利用爱特蒙特光学目录中的现货组件，构建一个微分干涉对比（DIC）显微镜。Stefaan还将展示如何使用DIC显微镜，增强待观察对象特征的对比度，这些特征很难用传统的显微技术观察到。我们能帮助您组建下一个应用吗？请与我们联系：www.edmundoptics.com/contact。登陆 www.photonics.com了解更多关于光电媒体的信息。
Discovering DIC Microscopy
Edmund Optics Imaging: Telecentric Lenses versus Hypercentric Lenses
Comparison of SWIR and Visible Imaging Systems
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